X線回折計SmartLabシリーズの知能の詳細：

一、計器紹介

インテリジェントX放射線回折計SmartLabシリーズは、現在の世界で極めて高性能な多機能X理学*のCBOクロス光学系、すべての光学コンポーネント、サンプルテーブル、インテリジェントな測定分析ソフトウェアを自動認識するSmartLab Guidance1台の計器は知能的に通常の粉末サンプル、液体サンプル、ナノ材料、薬品、半導体、薄膜サンプルのテストを行うことができる。

二、技術パラメータ

1、X放射線発生器の電力は3KW、新型9KWターゲットを回す

2、角度測定器は水平角度測定器である

3、角計zui小刻み1/10000度、zui高精度角計（二重光学符号化、直接軸上位置決め）（理学）

4、測角計配プログラム式可変スリット

5、すべての光学部品、サンプル台を自動的に識別する（理学）

6、CBO交差光路、集束光路及び高強度高分解能平行光路（バンドMirror）（理学）

7、小角散乱試験アセンブリ(SAXS / Ultra SAXS)

8、多目的フィルム試験アセンブリ

9、マイクロゾーンテストコンポーネント、CBO-Fマイクロストリップ光学アセンブリ

10、In-Planeテストコンポーネント（理学的に独自）

11、入射端Ka1光学コンポーネント

12、高速検出器D/teX-Ultra（エネルギー分解能20%以下）

13、二次元面探査PILATUS 100K/R(放射リングを同期させるための検出器で、直射を受信することができますX放射線)

14、インテリジェントな測定分析ソフトウェアSmartLab Guidance（）

三、主な特徴

インテリジェントX放射線回折計SmartLabシリーズは、様々な材料構造分析の各分野に広く応用できる。

分析可能な材料としては、金属材料、無機材料、複合材料、有機材料、ナノ材料、超伝導材料

分析可能な材料状態としては、粉末サンプル、ブロックサンプル、フィルムサンプル、マイクロゾーン微量サンプル

主な応用は

1. 粉末サンプルの物相定性と定量分析

2. 結晶化度、結晶粒の大きさを計算する

3. 結晶系、結晶粒の大きさと歪みを決定する

4. Rietveldていりょうぶんせき

5. 薄膜物相、多層膜厚、表面粗さ、電荷密度を含む薄膜サンプル分析

6. In-Plane装置は同時に試料の垂直方向の構造と試料の深さ方向の構造を測定することができる

7. 小角散乱とナノ材料の粒径分布

8. マイクロゾーンサンプルの分析